Charge Collection Efficiency Recovery in Heavily Irradiated Silicon Detectors at Cryogenic Temperatures
Julkaisuvuosi
1998
Tekijät
Da Via, Cinzia; Bell, W.H.; Berglund, P.; Borchi, E.; Borer, K.; Bruzzi, M.; Buontempo, S.; Casagrande, L.; Chapuy, S.; Cindro, V.; Dimcovski, Z.; "D'Ambrosio", N.; de Boer, W.; Dezillie, B.; Esposito, A.; Granat, V.; Grigoriev, E.; Heijne, E.; Heising, S.; Janos, S.
Näytä enemmänOrganisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
IEEE Nuclear Science Symposium, Toronto, November 8-14, 1998
Sivut
298-301
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1109/NSSMIC.1998.775148
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä