Unsupervised Segmentation of Surface Defects with Simple Texture Measures

< Takaisin hakutuloksiin

Unsupervised Segmentation of Surface Defects with Simple Texture Measures

Julkaisuvuosi

1999

Tekijät

Iivarinen, J.

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Emojulkaisun nimi

Workshop of Texture Analysis in Machine Vision, Oulu, Finland, June 14-15, 1999

Sivut

53-58

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Avainsanat

Local binary pattern; self-organizing map; Texture analysis; unsupervised learning

Kustantajan kansainvälisyys

Kotimainen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä
Unsupervised Segmentation of Surface Defects with Simple Texture Measures - Tiedejatutkimus.fi