Synchrotron x-ray topographic study of dislocations in GaAs detector crystals grown by vertical gradient freeze technique
Julkaisuvuosi
1997
Tekijät
Tuomi, T.; Juvonen, M.; Rantamäki, R.; Hjelt, Kari T.; Bavdaz, Marcos; Nenonen, S.; McNally, P.J.; Danilewsky, A.N.; Prieur, E.; Taskinen, M.; Tuominen, M.
Organisaatiot ja tekijät
Aalto-yliopisto
Tuomi Turkka
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
Materials Reseacrh Society Fall Meeting, Boston, USA, December 1-5, 1997
Sivut
233
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä