Performance and early applications of a versatile double aberration-corrected JEOL-2200FS FEG TEM/STEM at Aalto University
Julkaisuvuosi
2012
Tekijät
Jiang, Hua; Ruokolainen, Janne; Young, Neil; Oikawa, Tetsuo; Nasibulin, Albert G.; Kirkland, Angus; Kauppinen, Esko I.
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Kone- ja valmistustekniikka; Ympäristötekniikka; Nanoteknologia
Avainsanat
[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Kyllä
DOI
10.1016/j.micron.2011.10.004
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä