AFM tip characterization by Kelvin probe force microscopy
Julkaisuvuosi
2010
Tekijät
Barth, C.; Hynninen, T.; Bieletzki, M.; Henry, C.R.; Foster, A.S.; Esch, F.; Heiz, U.
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Lehti
New Journal of Physics
Kustantaja
Institute of Physics Publishing
Volyymi
12
Numero
September 2010
Artikkelinumero
093024
Sivut
1-14
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Kyllä
Julkaisukanavan avoin saatavuus
Kokonaan avoin julkaisukanava
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Kone- ja valmistustekniikka; Ympäristötekniikka; Nanoteknologia
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1088/1367-2630/12/9/093024
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä