X-ray Topography of Semiconductors Using Synchrotron Radiation
Julkaisuvuosi
1999
Tekijät
Rantamäki, R.
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Erillisteos
Yleisö
Yleistajuinen
OKM:n julkaisutyyppiluokitus
E2 Yleistajuinen monografia
Julkaisukanavan tiedot
Kustantaja
Teknillinen korkeakoulu
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kotimainen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä