undefined

Improved rotational invariance for statistical inverse in electrical impedance tomography.

Julkaisuvuosi

2000

Tekijät

Lahtinen, Jani; Martinsen, Tomas; Lampinen, Jouko

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Lampinen Jouko

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Lehti

IEEE International Joint Conference on Neural Networks (IJCNN)

Konferenssi

Proceedings of International Joint Conference on Neural Networks

Kustantaja

IEEE

Volyymi

2

Sivut

154-158

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1109/IJCNN.2000.857890

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä