Influence of surface topography on depth profiles obtained by Rutherford backscattering spectrometry
Julkaisuvuosi
2000
Tekijät
Slotte, J.; Laakso, A.; Ahlgren, Tommy; Rauhala, Eero; Salonen, R.; Räisänen, J.; Simon, A.; Uzonyi, I.; Kiss, A.Z.; Somorjai, E.
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Lehti
Journal of Applied Physics
Kustantaja
American Institute of Physics
Volyymi
87
Numero
1
Sivut
140-143
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1063/1.371835
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä