Characterization of InGaN/GaN and AlGaN/GaN superlattices by X-ray diffraction and X-ray reflectivity measurements
Julkaisuvuosi
2010
Tekijät
Sintonen, Sakari; Suihkonen, Sami; Svensk, Olli; Törmä, Pekka Tuomas; Ali, Muhammad; Sopanen, Markku; Lipsanen, Harri
Organisaatiot ja tekijät
Aalto-yliopisto
Lipsanen Harri 
Sopanen Markku
Ali Muhammad
Svensk Olli
Törmä Pekka
Sintonen Sakari
Suihkonen Sami
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Kustantaja
Volyymi
7
Numero
7-8
Sivut
1790-1793
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Kemia; Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka; Materiaalitekniikka; Nanoteknologia; Lääketieteen bioteknologia
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1002/pssc.200983630
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä