undefined

< Takaisin hakutuloksiin

Design and characterization of MIKES metrological atomic force microscope

Julkaisuvuosi

2010

Tekijät

Korpelainen, Virpi; Seppä, Jeremias; Lassila, Antti

Organisaatiot ja tekijät

Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy

Lassila Antti Orcid -palvelun logo

Seppä Jeremias Orcid -palvelun logo

Korpelainen Virpi Orcid -palvelun logo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Lehti

Precision Engineering

Volyymi

34

Numero

4

Sivut

735-744

ISSN

0141-6359

Julkaisu­foorumi

65362

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1016/j.precisioneng.2010.04.002

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Ei