undefined

3D-FBK pixel sensors: Recent beam tests results with irradiated devices

Julkaisuvuosi

2011

Tekijät

Micelli, A.; Helle, K.; Sandaker, H.; Stugu, B.; Barbero, M.; Hügging, F.; Karagounis, M.; Kostyukhin, V.; Krüger, H.; Tsung, J. W.; Wermes, N.; Capua, M.; Fazio, S.; Mastroberardino, A.; Susinno, G.; Gallrapp, C.; Di Girolamo, B.; Dobos, D.; La Rosa, A.; Pernegger, H.; Roe, S.; Slavicek, T.; Pospisil, S.; Jakobs, K.; Köhler, M.; Parzefall, U.; Darbo, G.; Gariano, G.; Gemme, C.; Rovani, A.; Ruscino, E.; Butter, C.; Bates, R.; Oshea, V.; Parker, S.; Cavalli-Sforza, M.; Grinstein, S.; Korokolov, I.; Pradilla, C.; Einsweiler, K.; Garcia-Sciveres, M.; Borri, M.; Da Vià, C.; Freestone, J.; Kolya, S.; Lai, C. H.; Nellist, C.; Pater, J.; Thompson, R.; Watts, S. J.; Hoeferkamp, M.; Seidel, Saskia; Bolle, E.; Gjersdal, H.; Sjoebaek, K. N.; Stapnes, S.; Rohne, O.; Su, D.; Young, C.; Hansson, P.; Grenier, P; Hasi, J.; Kenney, C.; Kocian, M.; Jackson, P.; Silverstein, D.; Davetak, H.; Dewilde, B.; Tsybychev, D.; Dalla Betta, G. F.; Gabos, P.; Povoli, M.; Cobal, M.; Giordani, M. P.; Selmi, L.; Cristofoli, A.; Esseni, D.; Palestri, P.; Fleta, C.; Lozano, M.; Pellegrini, G.; Boscardin, M.; Bagolini, A.; Piemonte, C.; Ronchin, S.; Zorzi, N.; Hansen, T. E.; Hansen, Teis; Kok, A.; Lietaer, N.; Kalliopuska, Juha; Oja, Aarne
Näytä enemmän

Organisaatiot ja tekijät

Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy

Oja Aarne

Kalliopuska Juha

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1016/j.nima.2010.12.209

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä