Single pixel characterization of X-ray TES microcalorimeter under AC bias at MHz frequencies
Julkaisuvuosi
2013
Tekijät
Akamatsu, H.; Gottardi, L.; Adams, J.; Bailey, C.; Bandler, S.; Bruijn, M.; Chervenak, J.; Eckart, M.; Finkbeiner, F.; Den Hartog, R.; Hoevers, H.; Kelley, R.; van Der Kuur, J.; Van Den Linden, T.; Lindeman, M.; Porter, F.; Sadleir, J.; Smith, S.; Beyer, J.; Kiviranta, Mikko
Näytä enemmänOrganisaatiot ja tekijät
Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy
Kiviranta Mikko 
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Konferenssi
Volyymi
23
Numero
3
Artikkelinumero
2100503
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1109/TASC.2012.2235509
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä