Characterisation of edgeless technologies for pixellated and strip silicon detectors with a micro-focused X-ray beam
Julkaisuvuosi
2013
Tekijät
Bates, R.; Blue, Andrew; Christophersen, M.; Eklund, L.; Ely, S.; Fadeyev, V.; Gimenez, E.; Kachkanov, V.; Kalliopuska, Juha; Macchiolo, A.; Maneuski, D.; Phlips, B.F.; Sadrozinski, F.-W.; Stewart, G.; Tartoni, N.; Zain, R.M.
Organisaatiot ja tekijät
Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy
Kalliopuska Juha
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Volyymi
8
Artikkelinumero
P01018
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1088/1748-0221/8/01/P01018
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä