undefined

< Takaisin hakutuloksiin

Deuterium depth profile quantification in a ASDEX Upgrade divertor tile using secondary ion mass spectrometry

Julkaisuvuosi

2014

Tekijät

Ghezzi, F.; Caniello, R.; Giubertoni, D.; Bersani, M.; Hakola, Antti; Mayer, M.; Rohde, V.; Anderle, M.; ASDEX Upgrade Team

Organisaatiot ja tekijät

Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy

Hakola Antti Orcid -palvelun logo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Lehti

Applied Surface Science

Volyymi

315

Sivut

459-466

ISSN

0169-4332

Julkaisu­foorumi

51536

Julkaisufoorumitaso

2

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Tieteenalat

Kemia

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1016/j.apsusc.2014.06.091

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä