undefined

Non-destructive microstructural analysis by electrical conductivity Comparison with hardness measurements in different materials

Julkaisuvuosi

2019

Tekijät

Sorger, Gonçalo L.; Oliveira, J. P.; Inácio, Patrick L.; Enzinger, Norbert; Vilaça, Pedro; Miranda, R. M.; Santos, Telmo G.

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Sorger Goncalo Orcid -palvelun logo

Vilaça Pedro Orcid -palvelun logo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Kustantaja

Elsevier

Volyymi

35

Numero

3

Sivut

360-368

Julkaisu­foorumi

60949

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Tieteenalat

Materiaalitekniikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1016/j.jmst.2018.09.047

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä