undefined

< Takaisin hakutuloksiin

Simulation Tools for Atom Probe Tomography:A Path For Diagnosis and Treatment of Image Degradation

Julkaisuvuosi

2018

Tekijät

Vurpillot, Francois; Parviainen, Stefan; Djurabekova, Flyura; Zanuttini, David; Gervais, Benoit

Organisaatiot ja tekijät

Helsingin yliopisto

Djurabekova Flyura

Parviainen Stefan

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Katsausartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A2 Katsausartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Lehti

Materials Characterization

Emojulkaisun nimi

Materials Characterization

Volyymi

146

Sivut

336-346

ISSN

1044-5803

Julkaisu­foorumi

62979

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Kyllä

Rinnakkaistallenteen lisenssi

CC BY NC ND

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Julkaisumaa

Yhdysvallat (USA)

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1016/j.matchar.2018.04.024

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä