Quantification of bonded Ni atoms for Ni-MoS2 metallic contact through X-ray photoemission electron microscopy
Julkaisuvuosi
2018
Tekijät
Shi, Xinying; Huttula, Marko; Pankratov, Vladimir; Hoszowska, Joanna; Dousse, Jean-Claude; Zeeshan, Faisal; Niu, Yuran; Zakharov, Alexei; Huang, Zhongjia; Wang, Gang; Posysaev, Sergei; Miroshnichenko, Olga; Alatalo, Matti; Cao, Wei
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Volyymi
24
Numero
S2
Sivut
458-459
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei tietoa
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Nanoteknologia
Julkaisumaa
Yhdysvallat (USA)
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1017/S1431927618014526
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä