undefined

Quantification of bonded Ni atoms for Ni-MoS2 metallic contact through X-ray photoemission electron microscopy

Julkaisuvuosi

2018

Tekijät

Shi, Xinying; Huttula, Marko; Pankratov, Vladimir; Hoszowska, Joanna; Dousse, Jean-Claude; Zeeshan, Faisal; Niu, Yuran; Zakharov, Alexei; Huang, Zhongjia; Wang, Gang; Posysaev, Sergei; Miroshnichenko, Olga; Alatalo, Matti; Cao, Wei

Organisaatiot ja tekijät

Oulun yliopisto

Huttula Marko Risto Orcid -palvelun logo

Alatalo Matti Kustaa

Miroshnichenko Olga Orcid -palvelun logo

Posysaev Sergei

Pankratovs Vladimirs

Cao Wei Orcid -palvelun logo

Shi Xinying Orcid -palvelun logo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Volyymi

24

Numero

S2

Sivut

458-459

Julkaisu­foorumi

63345

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei tietoa

Rinnakkaistallennettu

Kyllä

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka; Nanoteknologia

Julkaisumaa

Yhdysvallat (USA)

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1017/S1431927618014526

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä