Microbeam SEE Analysis of MIM Capacitors for GaN Amplifiers
Julkaisuvuosi
2018
Tekijät
Kupsc, Pawel; Javanainen, Arto; Ferlet-Cavrois, Véronique; Muschitiello, Michele; Barnes, Andrew; Zadeh, Ali; Calcutt, Jordan; Poivey, Christian; Stieglauer, Hermann; Voss, Kay-Obbe
Organisaatiot ja tekijät
Jyväskylän yliopisto
Javanainen Arto 
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli:
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Lehti/Sarja
Volyymi
65
Numero
2
Sivut
732-738
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object]
Tunnistettu aihe
[object Object]
Julkaisumaa
Yhdysvallat (USA)
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Kyllä
DOI
10.1109/TNS.2018.2791564
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä