undefined

< Takaisin hakutuloksiin

Microsphere-assisted phase-shifting profilometry

Julkaisuvuosi

2017

Tekijät

Perrin, Stephane; Leong-Hoi, Audrey; Lecler, Sylvain; Pfeiffer, Pierre; Kassamakov, Ivan; Nolvi, Anton; Haeggström, Edward; Montgomery, Paul

Organisaatiot ja tekijät

Helsingin yliopisto

Nolvi Anton

Haeggström Edward

Kassamakov Ivan

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Lehti

Artikkelin tyyppi

Alkuperäisartikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisukanavan tiedot

Lehti

Applied Optics

Emojulkaisun nimi

Applied Optics

Volyymi

56

Numero

25

Sivut

7249-7255

ISSN

1559-128X

Julkaisu­foorumi

51513

Julkaisufoorumitaso

1

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Kyllä

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Julkaisumaa

Yhdysvallat (USA)

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1364/AO.56.007249

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä