Electrical characterization of MIS capacitors based on Dy2O3-doped ZrO2 dielectrics

Electrical characterization of MIS capacitors based on Dy2O3-doped ZrO2 dielectrics

Julkaisuvuosi

2015

Tekijät

Garcia, H.; Castan, H.; Duenas, S.; Perez, E.; Bailon, L.; Tamm, A.; Kukli, K.; Aarik, J.; Mizohata, K.

Organisaatiot ja tekijät

Helsingin yliopisto

Mizohata K.

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Julkaisumaa

Yhdysvallat (USA)

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei

DOI

10.1109/CDE.2015.7087500

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä

Electrical characterization of MIS capacitors based on Dy2O3-doped ZrO2 dielectrics - Tiedejatutkimus.fi