Pixelated silicon detector for radiation beam profile measurements
Julkaisuvuosi
2023
Tekijät
Tikkanen, Joonas Samuli; Kirschenmann, Stefanie; Kramarenko, Nikita; Brücken, Erik; Koponen, Pirkitta; Luukka, Panja; Siiskonen, Teemu; Turpeinen, Raimo; Ott, Jennifer
Tiivistelmä
A pixelated silicon detector, developed originally for particle physics experiments, was used for a beam profile measurement of a cobalt-60 (Co-60) irradiator in a water phantom. The beam profile was compared to a profile measured with a pinpoint ionization chamber. The differences in the pixel detector and pinpoint chamber relative profiles were within approximately 2% of profile maximum, and after calculating correction factors with Monte Carlo simulations for the pixel detector, the maximum difference was decreased to approximately 1% of profile maximum. The detector’s capability to measure pulse-height was used to record an electron pulse-height spectrum in water in the Co-60 beam, and the results agreed well with simulations.
Näytä enemmänOrganisaatiot ja tekijät
Helsingin yliopisto
Brücken Erik
Ott Jennifer
Tikkanen Joonas Samuli
Kramarenko Nikita
Luukka Panja
Koponen Pirkitta
Turpeinen Raimo
Kirschenmann Stefanie
Siiskonen Teemu
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Lehti
Emojulkaisun nimi
Volyymi
165
Artikkelinumero
106949
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Kyllä
Julkaisukanavan avoin saatavuus
Osittain avoin julkaisukanava
Kustantajan version lisenssi
CC BY
Rinnakkaistallennettu
Kyllä
Rinnakkaistallenteen lisenssi
CC BY
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka; Materiaalitekniikka
Julkaisumaa
Yhdistynyt kuningaskunta
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1016/j.radmeas.2023.106949
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä