Experimental investigation of traps in THz Schottky diodes

Julkaisuvuosi

2016

Tekijät

Khanal, Subash; Kiuru, Tero; Seppä, Heikki; Mallat, Juha; Piironen, Petri; Räisänen, Antti V.

Organisaatiot ja tekijät

Aalto-yliopisto

Räisänen Antti

Mallat Juha

Khanal Subash

Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy

Seppä Heikki

Kiuru Tero

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli:

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Artikkelinumero

7500306

ISBN

978-1-5090-1348-7

Julkaisufoorumi

5475

Julkaisufoorumitaso

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Rinnakkaistallennettu

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka; Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Kyllä

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

DOI

10.1109/GSMM.2016.7500306

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen