Atomic force microscope adhesion measurements and atomistic molecular dynamics simulations at different humidities
Julkaisuvuosi
2017
Tekijät
Seppa, Jeremias; Reischl, Bernhard; Sairanen, Hannu; Korpelainen, Virpi; Husu, Hannu; Heinonen, Martti; Raiteri, Paolo; Rohl, Andrew L.; Nordlund, Kai; Lassila, Antti
Organisaatiot ja tekijät
Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy
Lassila Antti 
Sairanen Hannu
Seppä Jeremias
Heinonen Martti
Korpelainen Virpi
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
Volyymi
28
Numero
3
Artikkelinumero
034004
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
2
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Matematiikka; Fysiikka; Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Julkaisumaa
Yhdistynyt kuningaskunta
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Kyllä
DOI
10.1088/1361-6501/28/3/034004
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä