Towards a tomographic index of systemic risk measures
Julkaisuvuosi
2015
Tekijät
Björk, Kaj Mikael; Kouontchou, Patrick; Lendasse, Amaury; Miche, Yoan; Maillet, Bertrand
Organisaatiot ja tekijät
Aalto-yliopisto
Miche Yoan
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Emojulkaisun nimi
Konferenssi
European Symposium on Artificial Neural Networks, Computational Intelligence and Machine Learning
Kustantaja
ESANN
Sivut
543-548
ISBN
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Kyllä
Julkaisukanavan avoin saatavuus
Kokonaan avoin julkaisukanava
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Tietojenkäsittely ja informaatiotieteet
Avainsanat
[object Object]
Julkaisumaa
Belgia
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä