Thickness measurement of thin polymer films by total internal reflection Raman and attenuated total reflection infrared spectroscopy
Julkaisuvuosi
2012
Tekijät
Kivioja, Antti O.; Jääskeläinen, Anna-Stiina; Ahtee, Ville; Vuorinen, Tapani
Organisaatiot ja tekijät
Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy
Jääskeläinen Anna-Stiina
Aalto-yliopisto
Vuorinen Tapani 
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Lehti
Artikkelin tyyppi
Alkuperäisartikkeli:
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessäJulkaisukanavan tiedot
Lehti/Sarja
Volyymi
61
Numero
1
Sivut
1-9
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Teknillinen kemia, kemian prosessitekniikka; Materiaalitekniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei
DOI
10.1016/j.vibspec.2012.02.014
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä