Synchronized thermography for multi-layer thin film characterization
Julkaisuvuosi
2014
Tekijät
Leppänen, Kimmo; Saarela, Juha; Fabritius, Tapio
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
Ei-vertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Lehti
Proceedings of SPIE : the International Society for Optical Engineering
Emojulkaisun nimi
Emojulkaisun toimittajat
Eldada, L.A. ; Heben, M.J.
Konferenssi
Spie conference proceedings
Kustantaja
SPIE
Numero
9177
Artikkelinumero
917705
ISSN
ISBN
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka; Materiaalitekniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Julkaisumaa
Yhdysvallat (USA)
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei tietoa
DOI
10.1117/12.2060804
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä