Synchronized thermography for multi-layer thin film characterization
Julkaisuvuosi
2014
Tekijät
Leppänen, Kimmo; Saarela, Juha; Fabritius, Tapio
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
Ei-vertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Lehti
Proceedings of SPIE : the International Society for Optical Engineering
Emojulkaisun nimi
Konferenssi
Spie conference proceedings
Kustantaja
SPIE
Numero
9177
Artikkelinumero
917705
ISSN
ISBN
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei
Rinnakkaistallennettu
Ei
Muut tiedot
Tieteenalat
Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka; Materiaalitekniikka
Avainsanat
[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]
Julkaisumaa
Yhdysvallat (USA)
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Ei
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei tietoa
DOI
10.1117/12.2060804
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä