undefined

Synchronized thermography for multi-layer thin film characterization

Julkaisuvuosi

2014

Tekijät

Leppänen, Kimmo; Saarela, Juha; Fabritius, Tapio

Organisaatiot ja tekijät

Oulun yliopisto

Saarela Juha Mikko Sakari

Leppänen Kimmo Kalervo

Fabritius Tapio Orcid -palvelun logo

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Konferenssi

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Ei-vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisukanavan tiedot

Lehti

Proceedings of SPIE : the International Society for Optical Engineering

Emojulkaisun toimittajat

Eldada, L.A. ; Heben, M.J.

Konferenssi

Spie conference proceedings

Kustantaja

SPIE

Numero

9177

Artikkelinumero

917705

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Ei

Rinnakkaistallennettu

Ei

Muut tiedot

Tieteenalat

Sähkö-, automaatio- ja tietoliikennetekniikka, elektroniikka; Materiaalitekniikka

Avainsanat

[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object],[object Object]

Julkaisumaa

Yhdysvallat (USA)

Kustantajan kansainvälisyys

Kansainvälinen

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Ei

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

Ei tietoa

DOI

10.1117/12.2060804

Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen

Kyllä