NPL Surface Sample preview

Kuvaus

Sample manufactured by National Physical Laboratory by additive manufacturing. The goal of the sample and the measurements was to study the ability of the XCT instrument in measuring surface roughness. Studies were part of the AdvanCT project at VTT MIKES. Preview of PAS-dataset doi:10.23729/df883f74-ab5d-438a-94e2-a3f66f3d63c5
Näytä enemmän

Julkaisuvuosi

2021

Aineiston tyyppi

Tekijät

Jukka Kuva Orcid -palvelun logo - Julkaisija, Tekijä

Ville Heikkinen - Tekijä

Projekti

Muut tiedot

Tieteenalat

Fysiikka

Kieli

Saatavuus

Avoin

Lisenssi

Creative Commons Nimeä 4.0 Kansainvälinen (CC BY 4.0)

Avainsanat

tomography, metrology, surface roughness

Asiasanat

Ajallinen kattavuus

undefined

Liittyvät aineistot