Hyppää hakukenttään
Hyppää sivun pääsisältöön
Hyppää saavutettavuusselosteeseen
Tiedejatutkimus.fi
Valikko
Suomeksi
På svenska
In English
Etusivu
Haku
Tiede- ja innovaatiopolitiikka
Tiede- ja tutkimusuutiset
Suomeksi
- 456 hakutulosta
Julkaisut
456
Rahoitushaut
0
Myönnetty rahoitus
4
Tutkijat
1
Aineistot
36
Infrastruktuurit
2
Organisaatiot
0
Hankkeet
3
Julkaisut -
456
hakutulosta
Hyppää hakutuloksiin
Näytä kuvana
Rajaa hakua
Näytetään tulokset 1 - 10 / 456
10
50
100
tulosta / sivu
Mitä
julkaisu
tietoja palvelu sisältää?
Icon
Julkaisun nimi
Tekijät
Julkaisukanava
Vuosi
Julkaisujen tiedon ikoni
Gonioreflectometer for measuring spectral diffuse
reflectance
Vertaisarvioitu
Nevas, Saulius; Manoocheri, Farshid; Ikonen, Erkki
Applied Optics
2004
Julkaisujen tiedon ikoni
Reducing photodiode
reflectance
by Brewster-angle operation
Vertaisarvioitu
Sildoja, M.; Manoocheri, F.; Ikonen, E.
Metrologia
2008
Julkaisujen tiedon ikoni
Spectral
reflectance
of silicon photodiodes
Vertaisarvioitu
Haapalinna, A.; Kärhä, P.; Ikonen, E.
Applied Optics
1998
Julkaisujen tiedon ikoni
Gonioreflectometer for measuring spectral diffuse
reflectance
Nevas, S.; Manoocheri, F.; Ikonen, E.
-
2003
Julkaisujen tiedon ikoni
Precision spectrometer for specular
reflectance
measurements
Vertaisarvioitu
Haapalinna, A.; Manoocheri, F.; Ikonen, E.
Finnish Physical Society
1996
Julkaisujen tiedon ikoni
Precision spectrometer for measurement of specular
reflectance
Vertaisarvioitu
Haapalinna, Atte; Nevas, Saulius; Manoocheri, Farshid; Ikonen, Erkki
Review of Scientific Instruments
2002
Julkaisujen tiedon ikoni
Comparison measurements of spectral diffuse
reflectance
Nevas, Saulius; Holopainen, Silja; Manoocheri, Farshid; Ikonen, Erkki; Liu, Yuanjie; Lang, Tan Hwee;...
-
2005
Julkaisujen tiedon ikoni
Comparison measurements of spectral diffuse
reflectance
Nevas, Saulius; Holopainen, Silja; Manoocheri, Farshid; Ikonen, Erkki; Liu, Ye; Lang, T.H.; Xu, Gao
-
2005
Julkaisujen tiedon ikoni
Gonioreflectometer for measuring spectral diffuse
reflectance
Nevas, Saulius; Manoocheri, Farshid; Ikonen, Erkki
-
2004
Julkaisujen tiedon ikoni
High-accuracy measurement of specular spectral
reflectance
and transmittance
Vertaisarvioitu
Haapalinna, A.; Manoocheri, F.; Ikonen, E.
Analytica Chimica Acta
1999
Gonioreflectometer for measuring spectral diffuse
reflectance
Vertaisarvioitu
2004
Reducing photodiode
reflectance
by Brewster-angle operation
Vertaisarvioitu
2008
Spectral
reflectance
of silicon photodiodes
Vertaisarvioitu
1998
Gonioreflectometer for measuring spectral diffuse
reflectance
2003
Precision spectrometer for specular
reflectance
measurements
Vertaisarvioitu
1996
Precision spectrometer for measurement of specular
reflectance
Vertaisarvioitu
2002
Comparison measurements of spectral diffuse
reflectance
2005
Comparison measurements of spectral diffuse
reflectance
2005
Gonioreflectometer for measuring spectral diffuse
reflectance
2004
High-accuracy measurement of specular spectral
reflectance
and transmittance
Vertaisarvioitu
1999
Edellinen
1
2
3
4
5
Seuraava
Näytetään tulokset 1 - 10 / 456
Sivu 1
Sort