Preface: Proceedings of Second International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle (VALID) 2010

Julkaisuvuosi

2010

Tekijät

Alimohammad, A.; Baruzzo, A.; Du Bousquet, L.; Dini, P.; Muccini, H.; Klaus, A.; Perälä, Juho; Pandini, D.; Senguttuvan, R.; Sinha, A.; Stefanescu, A.; Vermeulen, B.; Van Baelen, S.; Gross, H.-G.

Organisaatiot ja tekijät

Teknologian tutkimuskeskus VTT Oy

Perälä Juho

Julkaisutyyppi

Julkaisumuoto

Artikkeli

Emojulkaisun tyyppi

Kokoomateos

Artikkelin tyyppi

Muu artikkeli

Yleisö

Tieteellinen

Vertaisarvioitu

Ei-vertaisarvioitu

OKM:n julkaisutyyppiluokitus

B2 Kirjan tai muun kokoomateoksen osa

Julkaisukanavan tiedot

Emojulkaisun nimi

Proceedings of Second International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle (VALID) 2010

Konferenssi

2nd International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle, VALID 2010

Kustantaja

IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers

Sivut

viii-ix

ISBN

978-0-7695-4146-4

Avoin saatavuus

Avoin saatavuus kustantajan palvelussa

Kyllä

Rinnakkaistallennettu

Muut tiedot

Kieli

englanti

Kansainvälinen yhteisjulkaisu

Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa

DOI

10.1109/VALID.2010.4