Single-parameter model for the post-breakdown conduction characteristics of HoTiOx-based MIM capacitors
Julkaisuvuosi
2014
Tekijät
Blasco, J.; Castan, H.; Garcia, H.; Duenas, S.; Sune, J.; Kemell, M.; Kukli, K.; Ritala, M.; Leskelä, M.; Miranda, E.
Organisaatiot ja tekijät
Julkaisutyyppi
Julkaisumuoto
Artikkeli
Emojulkaisun tyyppi
Konferenssi
Artikkelin tyyppi
Muu artikkeli:
Yleisö
TieteellinenVertaisarvioitu
VertaisarvioituOKM:n julkaisutyyppiluokitus
A4 Artikkeli konferenssijulkaisussaJulkaisukanavan tiedot
Lehti/Sarja
Emojulkaisun nimi
Konferenssi
European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)
Volyymi
54
Numero
9-10
Sivut
1707-1711
ISSN
Julkaisufoorumi
Julkaisufoorumitaso
1
Avoin saatavuus
Avoin saatavuus kustantajan palvelussa
Ei tietoa
Rinnakkaistallennettu
Ei tietoa
Muut tiedot
Tieteenalat
Fysiikka; Kemia
Julkaisumaa
Saksa
Kustantajan kansainvälisyys
Kansainvälinen
Kieli
englanti
Kansainvälinen yhteisjulkaisu
Kyllä
Yhteisjulkaisu yrityksen kanssa
Ei tietoa
DOI
10.1016/j.microrel.2014.07.067
Julkaisu kuuluu opetus- ja kulttuuriministeriön tiedonkeruuseen
Kyllä